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Servus,

ich plane in Zukunft mehrere Rotationssymmetrische Bauteile per Konfokalmikroskopie vermessen zulassen. Optimalerweise stelle ich mir das so vor, dass mir nach dem Scannen von einem externe Institut mir lediglich die Rohdaten des Bauteils zur Verfügung gestellt werden, und ich anhand der Rohdaten (STL,txt,x3d) und einer Open-Source-Software bestimmt Messwerte (Oberflächenrauheit, Rundheit, etc. )selbst rauslesen kann. Hat jemand bereits Erfahrung? Exisitiert eine Software um so etwas anzustellen? Welches Format bietet sich am besten an? Die Mikroskopiehersteller rücken leider nicht die  Software raus.

MFG

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