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DistanceX.PNG

Ich habe eine CGR Komponente in meinem Assembly und würde gerne programmatisch die minimale Distanz von dem CGR zu einer bestimmten Fläche (Face) aus einem anderen Teil (CATPart) berechnen. Händisch funktioniert das einwandfrei mit dem "Measure Between" Tool (s. Screenshot).

Hat jemand eine Idee, wie das programmatisch funktionieren könnte? Wie es scheint, kann ich auch kein valides Measurable auf dem CGR Produkt erstellen. Es kommt zwar ein Measurable dabei heraus, aber alleine Werte wie die Fläche (measurable.Area) führen zu Exceptions. 

Code:

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Product productOfCGR = <MeinCGRProduct>
Reference targetProductReference = <ReferenzAufMeinCGRProduct>
Product targetProduct = <ProductOwningFace>
Face targetFace = <MeineFläche>
Reference targetFaceReference = <ReferenzAufMeineFläche>

SPAWorkbench wb = (SPAWorkbench)targetProduct.GetWorkbench("SPAWorkbench");
Measurable measurableOnFace = wb.GetMeasurable(targetFaceReference);
var mindist = measurableOnFace.GetMinimumDistance(targetProductReference); /// Exception

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Ich würde mich über jeden Hinweis freuen, wie die Funktion, die in der GUI einwandfrei funktioniert, auch in C# abgreifbar sein könnte.

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Servus

Scheint das gleiche Problem wie hier zu sein.

Gruß
Bernd

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Warum einfach, wenn es auch kompliziert geht.

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ja, Danke - das scheint ein ähnliches Problem zu sein. Allerdings kann ich nicht die Lösung davon nutzen, da ich nicht nach der Distanz zwischen den beiden Produkten suche, sondern dem minimalen Maß zwischen dem Face und dem Produkt. D.h. Distance kann ich nicht nutzen, da das mir sonst die minimale Distanz zwischen den beiden Produkten ausgibt (incl. aller Faces im ersten Produkt).

Kurzum: Hat jemand ein Workaround gefunden, wie man measurable auf CGR Komponenten nutzen kann - oder bei programmatisch bei dem Measurable tool "Approximate" bei Genauigkeit einstellt, sodass trotz CGR Produkt eine Distanz berechnet werden kann?

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Servus

Ein Workaround wäre wohl:

• zur Messung ein Distance-Object verwenden (SPA-Lizenz notwendig?)
  
• beim Part nur die eine Fläche einblenden (oder temporär in ein leeres Part kopieren)

Gruß
Bernd

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Warum einfach, wenn es auch kompliziert geht.

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Servus Bernd,

guter Hinweis! Werde ich mal versuchen - ich hatte noch nicht viel mit rumkopieren / ein- ausblenden einzelner topologischer Elemente gemacht. Mal sehen, ob das so einfach ist wie es sich anhört (:

Als Quickfix Lösung hatte ich jetzt das "dumme" Teil (CGR) als wrl gespeichert und von dort die Vertices ausgelesen, die einzelnen Punkte wieder in einem neuen Produkt erzeugt und dann mit Measurable den Abstand zum face berechnet. Kommt halt mit einer größeren Ungenauigkeit, da die Punkte die Flächen natürlich nicht vollständig nachbilden. Werde deinen Ansatz in jedem Fall die Woche mal testen.
Vielen Dank für Deinen Input!!

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Das hat super funktioniert - Performancetests hab ich noch nicht gemacht.. Mal sehen wie stark der Rechner bei 1000+ faces in die Knie geht.

Code:

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HybridShapeExtract extr = hybridShapeFactory.AddNewExtract(<MyNativeFace>);
extr.Compute();
object datum = hybridShapeFactory.AddNewSurfaceDatum((Reference)extr);

CatiaSelection.Clear();
CatiaSelection.Add((HybridShape)datum);
CatiaSelection.Copy();
CatiaSelection.Clear();
CatiaSelection.Add(<TargetGeometricalSetInNewPart>);
CatiaSelection.PasteSpecial("CATPrtResult");

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Servus

Warum musst du zu tausenden Flächen einzeln messen?
ggf gibt es da auch einen direkteren Weg.

Gruß
Bernd

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Warum einfach, wenn es auch kompliziert geht.

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Ich will eine automatische Auswertung einer Bandanalyse machen. Hatte keine Möglichkeit gefunden wie ich direkt aus der Bandanalyse an alle Flächen eines Bauteiles kommen kann, die (teils) rot markiert sind. Darum exportiere ich das Ergebnis als dumme Geometrie und schau dann für  jede Fläche nach, ob sie einen Abstand von 0 zum Bandanalysen-Ergebnis hat.. schon relativ umständlich... Leider brauche ich für ein Auswertungsprogramm tatsächlich alle einzelnen Flächen bei denen die Bandanalyse (clearance-check) anschlägt.
Wenn jemand eine Idee hat wie man direkt zu den Flächen der Bandanalyse rankommt bin ich natürlich ganz Ohr   

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