Zitat:
Original erstellt von freierfall:
habe davon noch nichts gelesen bei Inventor. Bei Xing habe ich z.B. ein Büro gesehen, welches dieses biometrisches kontruieren anbieten und präsentieren. Gruß Sascha
Nein, geht nicht. Mit der einfachen im IV gelieferten FEM-Funktion hast Du jede MEnge Einschränkungen, die diese Funktionalität nicht nicht ermöglichen:
1. der E-Modul ist für das jeweilige Bauteil konstant. => Die Grundfunktion deiner Anwendung läßt sich nicht realisieren
2. Auch mit einer externen Anwendung ist das nicht realisierbar, da Du keinen Zugriff auf die Berechnungsergebnisse hast.
Was Möglich ist, ist eine Parametervariation oder (in der Cloud) eine Optimierungsfunktion, die ich mir aber noch nixht angsehen habe.
Ansonsten ist das Problem nur lösbar, wenn man es mit Geld bewirft
CU
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Der vernünftige Mensch paßt sich der Welt an;
der unvernünftige besteht auf dem Versuch, die Welt sich anzupassen.
Deshalb hängt aller Fortschritt vom unvernünftigen Menschen ab.
(George Bernard Shaw)
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